панель навигации

8 800 101-92-72 единый контакт-центр

Главная
Контакты
En
中文

Подписка

Подписка

Имя

Email

Все новости и публикации в области технического регулирования и стандартизации доступны при подписке на:

Дайджест по стандартизации и техническому регулированию (еженедельная информация о новых международных стандартах, принятых ИСО и МЭК, актах Евразийской экономической комиссии и Европейской комиссии в области технического регулирования, новых документах зарубежных органов по стандартизации и иные новости по стандартизации и техническому регулированию)

Чтобы отказаться от подписки перейдите по ссылке

панель навигации

О нас
Основные задачи
Направления деятельности

Нормативное и правовое обеспечение
Информационно-издательская продукция
Информационные центры
- Российский информационный центр по стандартизации, сертификации и преодолению технических барьеров в торговле - РИЦ ВТО (ТБТ/СФС)
- Официальный российский информационно-аналитический портал «Стандартизация в Китае»

Техническое регулирование и стандартизация
Классификация и каталогизация
Оценка соответствия
- Испытания
- Сертификация и декларирование продукции

Обучение

Обучение

Заключения

Экспертные заключения

Сертификация и испытания

Пресс-центр

Пресс-центр

Контакты

Обратная связь

Главная
О нас
Основные задачи
Федеральный информационный фонд стандартов
Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

Каталог DIN — национальные стандарты Германии

Я ищу:

найдено документов: 30 страниц: 2

DIN 4187-1-1974

Screening Surfaces; Perforated Plates for Test Sieves; Round Hole Perforations
Количество страниц: 2 Статус:

DIN 4187-2-1974

Screening Surfaces; Perforated Plates for Test Sieves; Square Hole Perforations
Количество страниц: 2 Статус:

DIN 4187-3-1974

Screening Surfaces; Perforated Plates for Test Sieves; Technical Conditions of Delivery
Количество страниц: 2 Статус:

DIN 41870-1-1969

Корпуса для полупроводниковых приборов и интегральных схем. Маркировка
Cases for semiconductor devices and integrated circuits; short designations
Количество страниц: 3 Статус:

DIN 41870-2-1969

Cases for semiconductor devices and integrated circuits; survey
Количество страниц: 5 Статус:

DIN 41870-2-1983

Корпуса полупроводниковые и интегральных схем. Обзор, соединительные облицовки
Cases for semiconductor devices and integrated circuits; survey, terminal covering
Количество страниц: 21 Статус:

DIN 41870-3-1982

Корпуса типа 60А2 (МЭК:А67) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 60A2 (IEC: A67)
Количество страниц: 3 Статус:

DIN 41870-4-1982

Корпуса типов 10В3 и 10D3 (МЭК:А68) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outlines 10B3 and 10D3 (IEC: A68)
Количество страниц: 3 Статус:

DIN 41870-5-1984

Корпуса типов 5L3 и 5Q3 (МЭК:А62В/А62Е) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 5L3 and 5Q3 (IEC: A62B and A62E)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-6-1984

Корпуса типов 18F3 и 18G3 (МЭК:А63D и А63Е) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outlines 18F3 and 18G3 (IEC: A63D and A63E)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-7-1985

Корпуса типа 64А2 (МЭК:А64) для полупроводниковых приборов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outlines 64A2 (IEC A64)
Количество страниц: 3 Статус:

DIN 41870-8-1985

Корпуса типа 65А2 (МЭК:А65) для полупроводниковых приборов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 65A2 (IEC A65)
Количество страниц: 3 Статус:

DIN 41870-9-1986

Корпуса типа 20А (МЭК:А50)для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline family 20A (IEC: A50)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-10-1986

Корпуса типа 20В (МЭК:А51) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline family 20B (IEC: A51)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-11-1986

Корпуса типа 20D (МЭК:А60) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline family 20D (IEC: A60)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-12-1986

Корпуса типа 20С (МЭК:А61) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 20C (IEC: A61)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-13-1986

Корпуса типа 14А3 (МЭК:А73А/В) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 14A3 (IEC: A73A/B)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-14-1986

Корпуса типа 14А2 (МЭК:А74А/В) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 14A2 (IEC: A74A/B)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-15-1986

Корпуса типа 91А3 (МЭК :А77) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline 91A3 (IEC: A77)
Количество страниц: 4 Статус:

DIN 41870-16-1986

Корпуса типа 24А (МЭК:А76) для полупроводниковых элементов и интегральных схем
Outlines for semiconductor devices and integrated circuits; outline family 24A (IEC: A76)
Количество страниц: 4 Статус:

найдено документов: 30 страниц: 2

1
2
следующая ›
последняя »

Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

нижний колонтитул

Включение сведений в единый реестр зарегистрированных систем добровольной сертификации

Предоставление сведений из единого реестра зарегистрированных систем добровольной сертификации

Получение сведений, содержащихся в Федеральном информационном фонде по обеспечению единства измерений

Получение информации о соблюдении требований технических регламентов

Представлений пользователям информации по документам федерального фонда и их копий

Отнесение технического средства к средствам измерений

Двойные стандарты? Нарушено единство измерений?

Расскажите нам о проблемах

Решаем вместе

Росстандарт

8 800 101 92 72
Единый контакт-центр
vk

© ФГБУ «Институт стандартизации», 2024

ФГБУ «Институт стандартизации» обрабатывает cookies исключительно с целью персонализации сервисов, и для повышения удобства пользования сайтом. Собранная информация третьим лицам не передается. Вы можете запретить обработку cookies в настройках Вашего браузера. Используя информационные ресурсы ФГБУ “Институт стандартизации” в сети Интернет, Вы соглашаетесь с использованием файлов cookies и политикой обработки персональных данных. Чтобы ознакомиться с политикой обработки персональных данных и об использовании файлов cookie, нажмите здесь.