Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 1 страниц: 1
DIN 50437-1979
Материалы полупроводниковые неорганические. Определение толщины эпитаксиального слоя кремния методом инфракрасной интерферометрииTesting of semi-conductive inorganic materials; measuring the thickness of silicon epitaxial layer thickness by infrared interference method
Количество страниц: 6 Статус:
найдено документов: 1 страниц: 1
- 1