панель навигации

8 800 101-92-72 единый контакт-центр

Главная
Контакты
En
中文

Подписка

Подписка

Имя

Email

Все новости и публикации в области технического регулирования и стандартизации доступны при подписке на:

Дайджест по стандартизации и техническому регулированию (еженедельная информация о новых международных стандартах, принятых ИСО и МЭК, актах Евразийской экономической комиссии и Европейской комиссии в области технического регулирования, новых документах зарубежных органов по стандартизации и иные новости по стандартизации и техническому регулированию)

Чтобы отказаться от подписки перейдите по ссылке

панель навигации

О нас
Основные задачи
Направления деятельности

Нормативное и правовое обеспечение
Информационно-издательская продукция
Информационные центры
- Российский информационный центр по стандартизации, сертификации и преодолению технических барьеров в торговле - РИЦ ВТО (ТБТ/СФС)
- Официальный российский информационно-аналитический портал «Стандартизация в Китае»

Техническое регулирование и стандартизация
Классификация и каталогизация
Оценка соответствия
- Испытания
- Сертификация и декларирование продукции

Обучение

Обучение

Заключения

Экспертные заключения

Сертификация и испытания

Пресс-центр

Пресс-центр

Контакты

Обратная связь

Главная
О нас
Основные задачи
Федеральный информационный фонд стандартов
Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

Каталог DIN — национальные стандарты Германии

Я ищу:

найдено документов: 4 страниц: 1

DIN IEC 60747-1-1987

Semiconductor devices; discrete devices and integrated circuits; general; identical with IEC 60747-1, edition 1983
Количество страниц: 31 Статус:

DIN IEC 60747-10-1987

Приборы полупроводниковые. Дискретные приборы и интегральные схемы. Часть 10: Общие технические условия на дискретные приборы и интегральные схемы
Semiconductor devices; generic specification for semiconductor devices and integrated circuits; identical with IEC 60747-10, edition 1984
Количество страниц: 18 Статус:

DIN IEC 60747-11-1992

Полупроводниковые приборы. Групповыетехнические условия. Идентично IEC 60747-11:1985
Semiconductor devices; sectional specification for semiconductor devices; identical with IEC 60747-11:1985
Количество страниц: 12 Статус:

DIN IEC 60747-15-2001

Приборы полупроводниковые дискретные. Часть 15. Изолированные мощные полупроводниковые приборы.
Discrete semiconductor devices - Part 15: Isolated power devices (IEC 47E/189/CDV:2001)
Количество страниц: 80 Статус:

найдено документов: 4 страниц: 1

1

Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

нижний колонтитул

Включение сведений в единый реестр зарегистрированных систем добровольной сертификации

Предоставление сведений из единого реестра зарегистрированных систем добровольной сертификации

Получение сведений, содержащихся в Федеральном информационном фонде по обеспечению единства измерений

Получение информации о соблюдении требований технических регламентов

Представлений пользователям информации по документам федерального фонда и их копий

Отнесение технического средства к средствам измерений

Двойные стандарты? Нарушено единство измерений?

Расскажите нам о проблемах

Решаем вместе

Росстандарт

8 800 101 92 72
Единый контакт-центр
vk

© ФГБУ «Институт стандартизации», 2024

ФГБУ «Институт стандартизации» обрабатывает cookies исключительно с целью персонализации сервисов, и для повышения удобства пользования сайтом. Собранная информация третьим лицам не передается. Вы можете запретить обработку cookies в настройках Вашего браузера. Используя информационные ресурсы ФГБУ “Институт стандартизации” в сети Интернет, Вы соглашаетесь с использованием файлов cookies и политикой обработки персональных данных. Чтобы ознакомиться с политикой обработки персональных данных и об использовании файлов cookie, нажмите здесь.