DIN EN 60749-2001

Статус: Дата введения в действие: 01.09.2001

Обозначение	DIN EN 60749-2001
Заглавие на английском языке	Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000); German version EN 60749:1999 + A1:2000
Дата опубликования	01.09.2001
МКС	31.080.01
Вид стандарта	ST
Обозначение заменяемого(ых)	DIN EN 60749(2000-02)
Обозначение заменяющего	DIN EN 60749(2002-09)
Язык оригинала	немецкий
Количество страниц оригинала	61
Перекрестные ссылки	DIN EN 60068-1(1995-03)* DIN EN 60068-2-6(1996-05)* DIN EN 60068-2-7(1995-03)* DIN EN 60068-2-11(2000-02)* DIN EN 60068-2-13(2000-02)* DIN EN 60068-2-14(2000-08)* DIN EN 60068-2-17(1995-05)* DIN EN 60068-2-21(1999-10)* DIN EN 60068-2-45(1994-02)* DIN EN 60068-2-47(2000-08)* DIN EN 60068-2-48(2000-09)* DIN EN 60695-2-2(1996-09)* DIN IEC 60068 Beiblatt 10(1985-08)* DIN IEC 60068-2-3(1986-12)* DIN IEC 60747-1(1987-03)* DIN IEC 60748-1(1988-01)* IEC 60068-1(1988)* IEC 60068-2-3(1969)* IEC 60068-2-6(1995-03)* IEC 60068-2-7(1983)* IEC 60068-2-11(1981)* IEC 60068-2-13(1983)* IEC 60068-2-14(1984)* IEC 60068-2-17(1994-07)* IEC 60068-2-20(1979)* IEC 60068-2-21(1999-01)* IEC 60068-2-45(1980)* IEC 60068-2-47(1999-10)* IEC 60068-2-48(1982)* IEC/TR 60653(1979)* IEC 60695-2-2(1991-04)* IEC 60747-1(1983)* IEC 60748-1(1984)*
Код цены	Preisgruppe 21