DIN IEC 60749-1987
Статус: Дата введения в действие: 01.09.1987
| Обозначение | DIN IEC 60749-1987 |
|---|---|
| Заглавие на английском языке | Semiconductor devices; mechanical and climatic test methods; identical with IEC 60749, edition 1984 |
| Дата опубликования | 01.09.1987 |
| МКС | 31.080.01 |
| Вид стандарта | ST*N |
| Обозначение заменяемого(ых) | DIN 41794-1(1972.06)*DIN IEC 47(CO)760(1979.10) |
| Обозначение заменяющего | DIN EN 60749-2000 |
| Язык оригинала | немецкий |
| Количество страниц оригинала | 18 |
| Перекрестные ссылки | DIN IEC 60068 Beiblatt 1* DIN IEC 60695-2-2* DIN IEC 60747-1* IEC 60068-1* IEC 60068-2-11* IEC 60068-2-13* IEC 60068-2-14* IEC 60068-2-17* IEC 60068-2-20* IEC 60068-2-21* IEC 60068-2-27* IEC 60068-2-3* IEC 60068-2-30* IEC 60068-2-38* IEC 60068-2-45* IEC 60068-2-48* IEC 60068-2-6* IEC 60068-2-7* IEC 60695-2-2* IEC 60747-1* IEC 60748-1* |
| Код цены | Preisgruppe 12 |