Каталог DIN — национальные стандарты Германии
найдено документов: 2 страниц: 1
DIN EN 60749-29-2004
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 29. Испытание на "защелкивание"Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2003); German version EN 60749-29:2003 + Corrigendum:2004
Количество страниц: 22 Статус:
найдено документов: 2 страниц: 1
- 1