Каталог OENORM — национальные стандарты Австрии
найдено документов: 38700 страниц: 1935
OEVE/OENORM EN 60747-16-3-2003
Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002)
Количество страниц: 44 Статус: Отменен
OEVE/OENORM EN 60747-16-3:2009
Приборы полупроводниковые. Часть 16-3. Интегральные схемы для СВЧ-диапазона. Преобразователи частотыSemiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (IEC 60747-16-3:2002 + A1:2009) (german version)
Количество страниц: 48 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60747-16-4:2005
Semiconductor devices - Part 16-4: Microwave integrated circuits - Switches (IEC 60747-16-4:2004)
Количество страниц: 30 Статус: Отменен
OEVE/OENORM EN 60749+A1+A2-2002
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000 + A2:2001)
Количество страниц: 74 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749+A1-2001
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996 + A1:2000)
Количество страниц: 59 Статус: Заменен
OEVE/OENORM EN 60749-2000
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods (IEC 60749:1996)
Количество страниц: 29 Статус: Заменен
OEVE/OENORM EN 60749-2-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure (IEC 60749-2:2002)
Количество страниц: 8 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-3-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual inspection (IEC 60749-3:2002)
Количество страниц: 6 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-6-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2002)
Количество страниц: 7 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-7:2012
Приборы полупроводниковые. Методы механических и климатических испытаний. Часть 7. Измерение внутреннего содержания влаги и анализ других остаточных газовSemiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011) (german version)
Количество страниц: 12 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-9-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking (IEC 60749-9:2002)
Количество страниц: 8 Статус: Действует
OEVE/OENORM EN 60749-10-2003
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock (IEC 60749-10:2002)
Количество страниц: 7 Статус: Действует
найдено документов: 38700 страниц: 1935