панель навигации

8 800 101-92-72 единый контакт-центр

Главная
Контакты
En
中文

Подписка

Подписка

Имя

Email

Все новости и публикации в области технического регулирования и стандартизации доступны при подписке на:

Дайджест по стандартизации и техническому регулированию (еженедельная информация о новых международных стандартах, принятых ИСО и МЭК, актах Евразийской экономической комиссии и Европейской комиссии в области технического регулирования, новых документах зарубежных органов по стандартизации и иные новости по стандартизации и техническому регулированию)

Чтобы отказаться от подписки перейдите по ссылке

панель навигации

О нас
Основные задачи
Направления деятельности

Нормативное и правовое обеспечение
Информационно-издательская продукция
Информационные центры
- Российский информационный центр по стандартизации, сертификации и преодолению технических барьеров в торговле - РИЦ ВТО (ТБТ/СФС)
- Официальный российский информационно-аналитический портал «Стандартизация в Китае»

Техническое регулирование и стандартизация
Классификация и каталогизация
Оценка соответствия
- Испытания
- Сертификация и декларирование продукции

Обучение

Обучение

Заключения

Экспертные заключения

Сертификация и испытания

Пресс-центр

Пресс-центр

Контакты

Обратная связь

Главная
О нас
Основные задачи
Федеральный информационный фонд стандартов
Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC

Я ищу:

найдено документов: 22306 страниц: 1116

IEC 60191-1(1966)

Стандартизаций конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1: Подготовка чертежей полупроводниковых приборов
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 1 : Preparation of drawings of semiconductor devices
Количество страниц: 64 Статус: Заменен

IEC 60191-1(2007)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентов
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Количество страниц: 42 Статус: Заменен

IEC 60191-1(2007)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки габаритных чертежей дискретных компонентов
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Количество страниц: 77 Статус: Заменен

IEC 60191-1(2018)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 1. Общие правила подготовки контурных чертежей дискретных приборов
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 1: General rules for the preparation of outline drawings of discrete devices
Количество страниц: 40 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions
Количество страниц: 610 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.1(2001)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 1
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 1
Количество страниц: 24 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.2(2001)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 2
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 2
Количество страниц: 24 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.3(2001)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 3
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 3
Количество страниц: 32 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.4(2001)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 4
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 4
Количество страниц: 40 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.5(2002)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 5
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 5
Количество страниц: 24 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.6(2002)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 6
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 6
Количество страниц: 47 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.7(2002)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 7
Mechanical standardization of semiconductor devices. Part 2. Dimensions. Amendment 7
Количество страниц: 62 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.8(2003)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 8
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 8
Количество страниц: 28 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.9(2003)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 9
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 9
Количество страниц: 22 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.10(2004)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 10
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 10
Количество страниц: 32 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.11(2004)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 11
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 11
Количество страниц: 22 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.12(2006)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 12
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 12
Количество страниц: 20 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.13(2006)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 13
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 13
Количество страниц: 44 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.14(2006)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 14
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 14
Количество страниц: 28 Статус: Действует

IEC 60191-2(1966)/Amd.15(2006)

Стандартизация конструкций полупроводниковых приборов. Часть 2. Размеры. Изменение 15
Mechanical standardization of semiconductor devices - Part 2: Dimensions. Amendment 15
Количество страниц: 22 Статус: Действует

найдено документов: 22306 страниц: 1116

« Первая
‹ предыдущая
...
121
122
123
124
125
126
127
128
129
130
131
132
133
134
135
136
137
138
139
140
...
следующая ›
последняя »

Каталоги стандартов, общероссийские классификаторы, терминологические словари

нижний колонтитул

Включение сведений в единый реестр зарегистрированных систем добровольной сертификации

Предоставление сведений из единого реестра зарегистрированных систем добровольной сертификации

Получение сведений, содержащихся в Федеральном информационном фонде по обеспечению единства измерений

Получение информации о соблюдении требований технических регламентов

Представлений пользователям информации по документам федерального фонда и их копий

Отнесение технического средства к средствам измерений

Двойные стандарты? Нарушено единство измерений?

Расскажите нам о проблемах

Решаем вместе

Росстандарт

8 800 101 92 72
Единый контакт-центр
vk

© ФГБУ «Институт стандартизации», 2024

ФГБУ «Институт стандартизации» обрабатывает cookies исключительно с целью персонализации сервисов, и для повышения удобства пользования сайтом. Собранная информация третьим лицам не передается. Вы можете запретить обработку cookies в настройках Вашего браузера. Используя информационные ресурсы ФГБУ “Институт стандартизации” в сети Интернет, Вы соглашаетесь с использованием файлов cookies и политикой обработки персональных данных. Чтобы ознакомиться с политикой обработки персональных данных и об использовании файлов cookie, нажмите здесь.