Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 22306 страниц: 1116
IEC 60147-4(1976)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть Ч. Приемка и надежностьEssential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 4 : Acceptance and reliability
Количество страниц: 39 Статус: Заменен
IEC 60147-0B(1969)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Второе дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminolgy
Количество страниц: 27 Статус: Заменен
IEC 60147-0C(1973)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Третье дополнение к публикации 1Ч7-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 0: General and terminology
Количество страниц: 39 Статус: Заменен
IEC 60147-0D(1974)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 51 Статус: Заменен
IEC 60147-0E(1979)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 43 Статус: Заменен
IEC 60147-0F(1982)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 45 Статус: Заменен
IEC 60147-1F(1973)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 31 Статус: Заменен
IEC 60147-1G(1975)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 23 Статус: Заменен
IEC 60147-1H(1981)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Восьмое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 51 Статус: Заменен
IEC 60147-1J(1981)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 31 Статус: Заменен
IEC 60147-2B(1970)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы измерений. Второе дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 53 Статус: Заменен
IEC 60147-2C(1970)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 73 Статус: Заменен
IEC 60147-2F(1974)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений. Шестое дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 72 Статус: Заменен
найдено документов: 22306 страниц: 1116