Каталог МЭК — публикации Международной электротехнической комиссии - IEC
найдено документов: 22222 страниц: 1112
IEC 60147-0D(1974)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 51 Статус: Заменен
IEC 60147-0E(1979)
Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 43 Статус: Заменен
IEC 60147-0F(1982)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 0. Общие положения и терминология. Шестое дополнение к публикации 147-0-66Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
Количество страниц: 45 Статус: Заменен
IEC 60147-1F(1973)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 31 Статус: Заменен
IEC 60147-1G(1975)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Шестое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 23 Статус: Заменен
IEC 60147-1H(1981)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Восьмое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 51 Статус: Заменен
IEC 60147-1J(1981)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 1. Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики. Девятое дополнение к публикации 147-1-72Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 1 : Essential ratings and characteristics.
Количество страниц: 31 Статус: Заменен
IEC 60147-2B(1970)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы измерений. Второе дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 53 Статус: Заменен
IEC 60147-2C(1970)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2: общие принципы методов измерений. Десятое дополнение к публикации 147-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 73 Статус: Заменен
IEC 60147-2F(1974)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 2. Общие принципы измерений. Шестое дополнение к публикации 1Ч7-2-63Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 2 : General principles of measuring methods.
Количество страниц: 72 Статус: Заменен
IEC 60147-3A(1973)
Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений. Часть 3. Эталонные методы измерений. Первое дополнение к публикации 147-3-70Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods. Part 3 : Reference methods of measurement.
Количество страниц: 21 Статус: Заменен
найдено документов: 22222 страниц: 1112